第１測線では、上部洪積層までの比較的浅部の地質構造及び伏在断層の位置、性状（正断層あるいは逆断層、断層の傾斜角、等）を把握するために、探査深度を５００ｍ程度に設定した。第２測線では、土柱層相当層および鳴門断層と伏在断層周辺の深部地質構造をより詳細に得るために、探査深度を１５００〜２０００ｍ程度に設定した。

上記の目的及び探査深度を満たすために、先の表４−１−１、表４−１−２、表４−１−３、表４−１−４に示したような探査仕様に決定した。