（１）目的
高密度電気探査は、地表より地盤の比抵抗を測定する事により、地盤の比抵抗構造を解析する方法である。今回の調査では、比抵抗構造により、断層等による破砕帯の検出あるいは第三紀層の分布深度の差異等を含めた地盤構造の推定を目的として実施した。