@ ボーリングによる地層の層序
ボーリングの位置を図２−１２に示し、調査結果を表２−４−１、表２−４−２、表２−４−３、表２−４−４、表２−４−５、表２−４−６に示す。Ｓ−２〜Ｓ−６の各孔では、基盤である浄法寺累層を確認した。基盤を覆う第四系は、シルト、砂および礫からなる。これらの地層は、層相、テフラ分析結果並びに１４Ｃ年代測定結果に基づき、大きく３層に区分される。
テフラについては、Ｓ−１の深度１０．１ｍ付近で確認された細粒のガラス質火山灰の純層（ガラスの屈折率からＡＴに対比）のほかは肉眼では確認できなかった。このため、第四紀層から連続的に試料を採取し、火山灰起源の鉱物（主に火山ガラス）の抽出および含有量の検討、並びにガラスの含有量ピークを識別した層準についてガラスの屈折率を測定した。その結果、ＡＴおよびＤＫＰが検出された。なお、Ｋ−Ａｈについては、ガラス含有量の分布が幅広く、狭いピーク幅で確認できないことから、降灰層準を特定できなかった。
確認された地層の層相および年代試料分析結果を表２−５に整理し、以下にその特徴を示す。
シルトおよび砂互層（T層）
砂質シルトおよび砂を主体とする互層。青灰色〜暗褐色〜黒色を呈する。部分的に腐植質で、層相および年代測定結果から、T−１層およびT−２層に細分される。
T−１層は、Ｋ−Ａｈ降灰層準を含み、基底部に腐植質シルト〜細粒砂を伴う。Ｓ−１およびＳ−２で採取したT−１層基底の腐植質シルトについて１４Ｃ年代測定を実施した結果、各々８，２１７±６８ｙ．Ｂ．Ｐ．、８，４４３±６２ｙ．Ｂ．Ｐ．の放射年代を得た。したがって、T−１層とT−２層の境界は、およそ８，５００年程度前と想定することが可能である。
T−２層はＳ−１で主に認められ、ＡＴ降灰層準を含む。Ｓ−１の深度１０．１ｍにおいては肉眼で識別できる火山灰が挟在され、ガラスの屈折率からＡＴ（約２．２〜２．５万年前に降灰）に対比できる。Ｓ−２、３、６については、肉眼では識別できないが、鉱物組成分析により火山ガラスの多産層準が識別でき（Ｓ−２：６．０ｍ付近、Ｓ−３：５．２ｍ付近、Ｓ−６：５．３ｍ付近）、それらは屈折率からＡＴ起源であると考えられる。本層はT−１層よりやや砂質で、基底部は細粒堆積物（シルト〜砂）を伴う。Ｓ−２では、T−１層基底部のシルトがＡＴ直上に分布するほか、Ｓ−６ではＡＴの降灰層準直上に５，０７２±５８ｙ．Ｂ．Ｐ．の放射年代を示す腐植質シルトが認められ、また、Ｓ−６以東ではU層との境界付近にＡＴ降灰層準が位置することから、T−２層の層厚はＳ−２以東でごく薄くなり、Ｓ−３以東ではほとんど分布しないと考えられる。両層の間には著しい不整合は認められず、ＡＴ降灰期の少し前から連続〜断続的に堆積した扇状地堆積物（主に完新統）と考えられる。シルトおよび砂には、安山岩からなる亜角〜亜円礫が含まれる。部分的に腐植質で、固結度は低い。
砂および砂礫互層（U層）
砂および砂礫からなる互層。暗褐色〜黄褐色を呈し、T層より粗粒な部分が多い。礫は亜角〜亜円礫で、礫種は安山岩礫主体、他に凝灰岩礫を含む。Ｓ−１およびＳ−２の中〜下部（Ｓ−１：１７．０〜１７．１ｍ、Ｓ−２：７．７〜９．０ｍ）からは、類似した屈折率を示す斜方輝石および自形で新鮮な短冊状緑色普通角閃石が多く検出され、これらはその特徴からＤＫＰ降灰層準である可能性が示唆される。
砂および砂礫互層（V層）
砂および砂礫からなる互層。U層とは、安山岩礫のほか、花崗閃緑岩、砂岩等からなる礫を含むこと、礫の径がやや大きく円磨度が高いこと等から区別される。Ｓ−１およびＳ−２においてのみ確認された。
基盤（浄法寺累層）
凝灰岩〜凝灰角礫岩。部分的に軽石質で、弱い溶結構造、流理構造等が認められる。一部（Ｓ−３の２７ｍ以深）を除き、小断層および節理沿いに風化・鉄汚染が進み、全体に著しく軟質であるほか、部分的に粘土〜土砂状を呈する。特に、Ｓ−２においては、基盤岩全体が破砕している。
A ボーリングから想定される地質構造
ボーリング調査の結果、Ｓ−２孔より東側で確認される基盤（浄法寺累層）は、Ｓ−１孔では確認されず、Ｓ−１孔とＳ−２孔の間に断層が分布する可能性が示唆される。しかし、上位の第四紀層中の鍵層であるＤＫＰおよびＡＴについては、その出現深度が西に向かって深くなり、Ｓ−１孔とＳ−２孔間で急斜する傾向が認められたものの概ね連続して追跡可能であり、明瞭な断層変位は認められない。
また、Ｓ−２孔とＳ−６孔の間においても基盤上面の分布深度に若干の差が認められたが、U層より上位の各地層境界および鍵層の分布に変化は見られず、U層堆積時以降の新期の断層活動による変形は認められない。
各孔で確認された層序区分に基づいて作成した推定地質断面図を図２−１３に示す。